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450Kv X射线实时成像DR/CT检测系统

    针对用户需求,结合国内外现有无损检测系统技术现状,我公司可利用市场上225kV、320kV、450kV射线源和德国NTB线阵探测器、美国瓦里安(Varian)平板面阵探测器、珀金埃尔默(PerkinElmer)高能平板探测器等集成数字式实时成像检测系统。

一、系统组成

 

系统组成示意图



 
系统实物图


1. 射线源:
 


 最大管电压 450 k
 焦点尺寸 (acc. EN12543)  2.5 mm / 5.5 mm
 最大功率 (fine / standard focus)  0.9 kW / 4.5 kW
 最大管电流 at 450 kV  2 mA / 10 mA
 光束角 40 °
 内置滤波器  5 mm Be + 3 mm Al + 0.5 mm Cu
 辐射泄漏 < 5 mSv/h


2. X射线接收装置—数字平板探测器:针对高能射线信号,高能探测器选用特殊闪烁体材料,对高能射线吸收效率高,提高了系统检测性能;同时对采集和数据处理电路进行专门设计,主要参数如下:


 成像板类型:非晶硅a-Si:H
 响应能量:20kV-450kV,
 有效区域:409.6x409.6mm²
 像素尺寸:200μm
 空间分辨率:3lp/mm
 模数转换器:16位(保证图像对比度,提高系统的密度分辨率)
 闪烁体类型:DRZ(专门为高能辐照设计)
 帧频:7.5-15帧/秒(30帧可选)
 外形尺寸:672 mm x 599 mm x 44 mm
 重量:25kg


3. 机械装置—转台和传动装置(根据现场要求设计),采用大载荷、高精度伺服电机,提高自动化程度,提高系统稳定性和检测效率


4. 工控机(配最先进的GPU处理器)、高分辨率显示器


5. 软件系统:数据采集、处理软件:滤波降噪、边缘锐化、灰阶对比度调整、图像黑白翻转、图像平滑处理、尺寸测量、壁厚测量、面积测量、密度测量等功能;

二、性能指标

a) 空间分辨率:≥2Lp/mm(DR);
b) 相对灵敏度(密度分辨率):≤2%(DR);
c) 扫描成像时间:实时

三、实验案例

1、某单位提供工件:不锈钢套筒(壁厚30mm),填充密度为2.0的某种材料,检测填充物内部气孔(直径依次为1-5mm),检测结果为,系统可探测到直径为1mm的气孔。


  
 

反转效果图

 

2、我公司为航天某用户检测工件:等效壁厚140mm铸铝材料,检测人工模拟缺陷(0.5-6mm)圆孔。
检测结果:可发现0.5-6mm直径的所有模拟孔缺陷(如下图)。

 

 

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